eMMC 生命周期预测、验证和测试

eMMC 算法可实现低写入放大率。我们提供多种配置来均衡性能、使用寿命及可靠性。使用 EXT_CSD（所有 eMMC 设备共享的一项功能）中的 JEDEC 使用寿命预估工具监控设备的使用寿命。根据设备的耐久力以 10% 的增量报告使用寿命。一个工具报告 TLC 或 MLC 配置的 NAND 闪存块的使用寿命，而其他工具报告伪 SLC 模式中配置的块的使用寿命。

2024-03-30

NAND-FLASH颗粒芯片自动化测试方案

NAND-FLASH颗粒芯片自动化测试方案
1. 设计并搭建自动化测试平台，包括测试设备、测试程序和数据分析工具。 
2. 开发测试程序，覆盖NAND-FLASH颗粒芯片的各项功能和性能指标。
 3. 设计自动化测试流程，实现高效、准确地对芯片进行测试。
 4. 运行自动化测试，收集数据并生成测试报告。 
5. 分析测试结果，评估芯片性能并提出改进建议。

2024-03-29