闪存芯片智能测试系统是一种可以量身定制测试方案、支持多种型号闪存颗 粒并行测试的综合闪存测试系统，系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最 多可达 64 种，并行测试闪存颗粒数量最多可达 512 颗。
闪存芯片智能测试系统支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，可提 供一键式基础测试流程和高灵活性的高阶测试流程，不仅可以实现闪存颗粒剩余寿命预 测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，还能够帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为客户提供最直观精确的图形 化测试数据，为闪存颗粒的等级分类和应用提供最直观的数据参考，并基于闪存颗粒品 质检测结果实现智能分级。

PCIE M.2高低温BIT智能测试箱具有高低温测试功能，可确保PCIE M.2的盘在各种环境温度条件下的测试其稳定性和可靠性。同时，它还支持BIT功能，可以快速诊断和定位故障，提高测试效率和准确性。这款智能测试箱是PCIE M.2盘量产测试设备的理想选择。它支持PCIE NVMe GEN3、GEN4盘的高低温及BIT测试。

SATA 高低温BIT智能测试箱具有高低温测试功能，可确保SATA盘在各种环境温度条件下的测试其稳定性和可靠性。同时，它还支持BIT功能，可以快速诊断和定位故障，提高测试效率和准确性。这款智能测试箱是SATA盘量产测试设备的理想选择。

NAND-FLASH 芯片BGA高温RDT老化柜是一种专门用于测试和评估芯片在高温环境下的稳定性和性能的设备。这种老化柜能够模拟出极端的工作条件，帮助制造商在产品上市前发现潜在的问题并进行改进。通过在老化柜中进行长时间的测试，可以确保芯片在实际应用中能够稳定可靠地运行。

可用于SSD产品PCIE-M.2盘进行RDT老化测试， "PID温度控制器，配SSR输出； 超温保护，接地保护，风机过载保护； 双开门，大面积钢化玻璃观察窗，可观察工作室状况，内置保温层； 一拖八PCIE接口独立开关控制板卡； 履带式抽拉抽屉，12V 360W控制电源，耐高温线；

应用于SATA产品量产阶段数量多的高温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试，实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。
在高温RDT老化测试过程中，可以准确监测产品的性能表现，确保其在量产阶段能够稳定可靠地运行。同时，实时测控表面老化温度可以帮助识别潜在的故障点，提前进行必要的维护和调整，从而提高产品的整体质量和可靠性。扩展实时监测电流与功耗也能有效评估产品的能效表现，为后续的优化提供数据支持。

应用于SATA产品量产阶段数量多的高温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试，实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。在高温RDT老化测试过程中，可以准确监测产品的性能表现，确保其在量产阶段能够稳定可靠地运行。同时，实时测控表面老化温度可以帮助识别潜在的故障点，提前进行必要的维护和调整，从而提高产品的整体质量和可靠性。扩展实时监测电流与功耗也能有效评估产品的能效表现，为后续的优化提供数据支持。