• 首页
  • 关于我们
    • 公司简介
    • 荣誉资质
    • 我们的服务
  • 产品中心
    • 热流仪节能型冷热冲击温度试验箱
    • SSD 研发型产品系列
    • SSD 量产型产品系列
    • SSD产品测试板卡及附件
    • 高低温恒温恒湿系列
    • 半导体器件，Memi，Meroc系列产品
    • 智能化软硬件综合测试方案
    • 环境模拟测试设备系统
    • 冷热冲击试验箱
    • 高压加速老化试验机
  • 新闻中心
    • 公司新闻
    • 行业新闻
  • 解决方案
  • 案例展示
    • 合作案例
  • 产品知识
  • 联系我们
    • 联系我们
    • 在线留言
  • 首页
  • 关于我们
    • 公司简介
    • 荣誉资质
    • 我们的服务
  • 产品中心
    • 热流仪节能型冷热冲击温度试验箱
    • SSD 研发型产品系列
    • SSD 量产型产品系列
    • SSD产品测试板卡及附件
    • 高低温恒温恒湿系列
    • 半导体器件，Memi，Meroc系列产品
    • 智能化软硬件综合测试方案
    • 环境模拟测试设备系统
    • 冷热冲击试验箱
    • 高压加速老化试验机
  • 新闻中心
    • 公司新闻
    • 行业新闻
  • 解决方案
  • 案例展示
    • 合作案例
  • 产品知识
  • 联系我们
    • 联系我们
    • 在线留言
  • ꁸ 回到顶部
  • ꂅ 400-1017-871
  • ꁗ QQ客服
  • ꀥ 微信二维码
넳 넲
ꁆ ꁇ

Flash-Nand 8颗性能测试FPGA板卡

返回列表 >>
在线订购 >>
测试产品通道数量：8 颗。
产品兼容：三星，东芝，海力士，长江存储，镁光。

NAND FLASH板卡

 

 

功能介绍

 

测试产品通道数量 8 颗
产品兼容 三星，东芝，海力士，长江存储，镁光
测试温度范围 支持宽温（-70℃~120℃）带电测试
供电方式 供电电压DC5V
环境温度 -70 ~ 120（误差+/-2%）
测试项目 监控每通道电压，电流
监控每通道产品功耗
每个产品独自上下电
产品同时电压拉偏
坏块验证
寿命预测
信息识别
等级分类
通讯方式 以太网

产品详情

ꄴPrevious： SATA一拖六测试板卡
ꄲNext： PCIE-AIC （GEN3,GEN4) 1拖4带性能测试板卡

热门产品