SATA 6片宽温BIT老化柜

技术参数

1、性能：平衡调温控制系统（BTC），以 PID 方式控制 SSR，使系统之 加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用；

2、温度范围： -70℃～150℃；

3、温度波动度：±0.5℃； 

4、温度均匀度：±2℃； 

5、升温速率：5℃/min （室温～150℃±2℃）；

6、时间设定:0~999H 可以任意设定；

7、实时监测产品表面温度；

测试软件功能

主要用于测试SSD的断电、大量读/写比对、全盘读/写、指定 Pattern 对媒介的老化测试、新增坏块的统计和协议测试等等；主要分为这几种 PCT 、BIT 、MDT 与 FDS。

PCT(Power Cycling Test) ：各种Pattern异常断电测试，测试SSD算法的断电处理和重建，验证异常断电时对数据的完整性。

BIT(Burn-In Test)：验证各种Pattern顺序或随机读/写是否正常，以及各种Pattern对媒介的响。            

MDT(Multi-Drive Test) ：验证SSD是否支持ATA1-8规格的命令，将对SSD发送所支持命令，并确认结果有无问题。

FDS(Full Drive Scan) ：对SSD进行的全盘读写操作，验证映射表是否正确；

软件详细功能

详细功能分为如下四部分

一、PCT(Power Cycling Test)

各种 Pattern 的配置；

读/写 数据大小的配置；

顺序与随机读写比对配置；

验证异常断电与正常断电数据完整性；

脚本控制上电与断电时间；

指定LBA的数据读/写操作；

测试SSD算法的断电处理与重建；                              

测试 UPS 稳定性与电容负载需求值；

测试盘启动的时间；

测试产品电源管理功能的稳定性；

测试盘的 UPS 老化测试；

高温下测试板级电子元器件焊接情况；

可以用于验证市面上断电保护SSD产品的情况；

验证SSD对各种主板的兼容性；

Trim的验证；

自动保存测试Log并且定时上传；

二、BIT(Burn-In Test)

验证各种Patten的顺序读/写比对与性能；

验证各种Patten的随机读/写比对与性能；

统计各种Pattern对媒介的影响；

产品各种Patten的老化测试；

全盘并且所有Pattern自动测试；

Sector数和Pattern可以脚本配置；

可以设定时间来测试读/写比对验证；

测试过程中统计新增坏块；

指定Frame大小，测试产品功能的全面性；

验证DDR、Flash与接口的数据通路；

验证SSD的随机读/写性能稳定性；

自动保存测试Log并且定时上传；

三、MDT(Multi Drive Test)

Sector数可配置；

LBA28与 LBA48可配置；

验证产品接口协议的兼容性；

验证产品对协议规定命令支持情况，并对其进行统计；

可以指定命令对产品进行相关测试；

验证 DATA命令的读/写操作，并且对数据进行比对；

验证No-Data命令支持的情况；

自动保存测试Log并且定时上传；

四、FDS(Full Drive Scan)

全盘读写操作，验证盘映射表的正确性，并进行比对操作；

Pattern和 Sector数可配置；

可配置时间进行读/写操作；筛出 Flash的坏块与Weak Block；

验证 DDR与Flash的所有 Block；

验证SSD算法映射表是否正确；

自动保存测试Log并且定时上传；