桌上型快速冷热冲击试验机

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MD高低温控制系统通过测试头与DUT之间直接接触，将DUT的温度（壳温或者结温）调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用
socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。
该设备的作用是帮助客户在半导体、电子和其他设备的开发和制造过程中进行温度测试和验证。可以快速实现高低温环境变化，工作效率极高，可以节省大量的研发时间。

设备名称	TEC快速冷热冲击试验机
设备型号	YC-20F
性能技术指标
温度范围	-55℃～＋150℃
控制精度	±1.0℃
温度设定及显示精度	0.1℃
DUT全自动压力控制	2kg-18kg/Force +/-1 kg
内置气压控制	6-8kg/cm
外箱尺寸	280265520mm(WHD)
DUT尺寸	From 2x2mm to 40x40mm
温度变化速度	25°C to -40°C in < 1.5min,
	25°C to 125°C in < 1 min
温度控制	气体温度与样品温度可选择测控。
温度传感器	A级T型热电偶
操作界面	触摸屏工业级系统, 稳定性更高
操作方式	程序方式、定值方式
状态显示	温度设定并实时显示
数据存储	数据档可以存储在优盘中
数据图表	带有时间/温度图表
数据记录	数据可以记录到档或转存计算机中
通讯接口	RS232/RS485/TCP,可追加GPIB
校准方式	手动/软件校准
供给气体干燥度	温度20~25，露点-70以下气体或N2
供给气体	压力：<0.5cfm (1.5-3.0 PSI)
电源	AC220V 50HZ/10A
支持的封装形式	BGA •FCBGA •LGA •QFN •QFP •CSP •WLCSP •Bare Die •and more
运行功率	600W左右