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PCIE M.2老化测试板

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PCIE M.2老化测试板一拖八,专业用于NVME盘常温到高温带电测试。

功能介绍

测试产品通道数量

8 Port

接口

M.2,NVME,U.2,U.3,AIC

测试项目

常温到高温带电测试

 

供电电压DC12V

环境温度

-10 ~ 80(误差+/-2%)

可扩展测试项目

监控每通道电压,电流

 

监控每通道产品功耗

 

时钟延时

 

复位测试

产品详情

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