PCT高压加速老化试验箱

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PCT试验箱广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品材料测试其制品的耐压性、气密性的试验设备。主要是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。该设备主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

技术参数：

内箱容积（圆桶）：￠300×D500、￠400×D500

温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃

压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm²、压力表+0.2～3.5kg/cm²

湿度范围：100%R.H（饱和蒸汽）

适用范围：一般适用于印刷线路板（PCB或FPC）、半导体、金属、磁性材料、电子元器件、高分子材料等

特点：

1、采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。

2、独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3、门锁省力结构，解决第一代産品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4、试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。

5、超长效实验运转时间，长时间实给机台运转400小时.