PCIE M.2高低温BIT智能测试箱具有高低温测试功能，可确保PCIE M.2的盘在各种环境温度条件下的测试其稳定性和可靠性。同时，它还支持BIT功能，可以快速诊断和定位故障，提高测试效率和准确性。这款智能测试箱是PCIE M.2盘量产测试设备的理想选择。它支持PCIE NVMe GEN3、GEN4盘的高低温及BIT测试。

应用于SATA产品研发阶段数量少的高低温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试，实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。

应用于SATA产品研发阶段数量少的高温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试，实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。

Flash-Nand 8颗宽温BIT老化柜可以通过物理测试和逻辑测试方法，读取到 NAND Flash 闪存芯片的真实性能参数，实时地测试闪存颗粒的各类特性，并一键导出测试报告，同时Flash-Nand 4颗宽温BIT老化柜可依据不同测试场景需求，提供基础测试（实现闪存质量分级）、实验测试（对闪存颗粒实际寿命进行预测，可输出对比报告）、高阶测试（自由选择测试 pattern，设置测试条件，实现对颗粒性能的测试分析）。

近几年EMMC应用领域从手机应用延伸到IOT、工业、医疗甚至是车用电子。这个微小的芯片中，储存了许多重要的数据，在面对各种不同的应用场景时，芯片的可靠度、衰老以及对于工作环境温度的稳定性也变得极为重要。
如何确保产品所使用的EMMC与UFS能够在这些艰难的环境下提供稳定的功能与效能表现也成为工程师极为关注的项目。

整合了 CPU/内存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式测试方案。
多种配置组合，适应用户不同使用场景，如研发中心SIT测试，研发团队硬件匹配性测试，工厂测试，RMA维修，进料检。
DDR内存测试是非常重要的，可以确保计算机系统的稳定性和性能。在进行DDR内存测试时，需要使用专业的测试工具和软件来检测内存的速度、容量和稳定性。通过定期进行DDR内存测试，可以及时发现并解决内存问题，确保系统运行的顺畅和稳定。DDR内存测试还可以帮助用户评估内存的性能，选择适合自己需求的内存产品。