NAND-FLASH 芯片BGA高低温BIT智能测试箱
闪存芯片智能测试系统支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，可提 供一键式基础测试流程和高灵活性的高阶测试流程，不仅可以实现闪存颗粒剩余寿命预 测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，还能够帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为客户提供最直观精确的图形 化测试数据，为闪存颗粒的等级分类和应用提供最直观的数据参考，并基于闪存颗粒品 质检测结果实现智能分级。
1、产品概述
闪存芯片智能测试系统YC-512-NAND是一种可以量身定制测试方案、支持多种型号闪存颗 粒并行测试的综合闪存测试系统，系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最 多可达 64 种，并行测试闪存颗粒数量最多可达 512 颗。
闪存芯片智能测试系统YC-512-NAND支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，可提 供一键式基础测试流程和高灵活性的高阶测试流程，不仅可以实现闪存颗粒剩余寿命预 测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，还能够帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为客户提供最直观精确的图形 化测试数据，为闪存颗粒的等级分类和应用提供最直观的数据参考，并基于闪存颗粒品 质检测结果实现智能分级。
2 、产品规范
- 测试依据符合JEDEC Stand No.218: 固态技术协会 B-2016 Solid-State Drive(SSD) Requirements And Endurance Test Motho；
- 测试依据符合JEDEC Standard No.47 NVCE:固态技术协会Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits；
※ 测试板设计规格符合工业级测试温度环境要求；
3 、产品图例
4、设备组成
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名称 |
规格 |
数量 |
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主 |
体 |
测试板 |
PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1_3_Rohs |
64 |
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YC-512-NAND 定制温箱 |
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温箱 |
温箱：L130cm*W185cm*H186cm； 控制箱：L60cm*W110cm*H157cm； |
1 |
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可并行测试颗粒数量：1~512 颗； |
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工作温度范围：-60℃~+150℃； |
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含维护用螺丝刀、备用螺丝、扳手； |
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详细规格如下文档 |
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上位机 |
CPU-i7，16G 内存，1T 固态硬盘+机械硬盘 3T； 21.5 寸显示器； |
1 |
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交换机 |
千兆交换机 |
2 |
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配 |
件 |
真空吸笔 |
便携式防静电 |
1 |
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闪存规格限位框 |
12mm*18 mm（测试底座内置） |
512 |
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闪存规格限位框 |
14mm*18 mm |
512 |
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附系统安装 U 盘 |
32GB |
1 |
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软 |
件 |
NAND 闪存自动化测试分类与寿命预测系统 1.0 |
1 |
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闪存筛选方法软件 V1.0.0 |
1 |
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NAND 闪存高低温测试分类与筛选系统 V1.0 |
1 |
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5、产品功能
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产品功能 |
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基础测试 |
芯片信息识别 |
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实时功耗测试 |
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误码率测试 |
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平均擦除时间测试 |
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平均编程时间测试 |
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坏块数测试 |
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坏块容量测试 |
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剩余可用容量测试 |
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闪存等级划分 |
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剩余寿命预测 |
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一键导出测试报告 |
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实验测试 |
最大错误数测试 |
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平均擦除时间测试 |
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平均编程时间测试 |
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闪存错误数变化绘图 |
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实际可擦写次数测试 |
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最大页面错误数变化测试 |
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擦除时间变化测试 |
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编程时间变化测试 |
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高阶测试 |
测试电压拉偏 |
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设置测试范围（块间隔） |
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ECC 设定 |
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挑选测试 pattern |
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Read-retry |
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数据保持 |
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读干扰 |
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6、技术参数
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物理特性 |
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设备尺寸 |
温箱：L130cm*W125cm*H230cm；控制箱：L73cm*W90cm*H127cm； |
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供电方式 |
交流 |
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工作电压范围 |
三相供电 380V |
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正常工作功耗 |
16KW |
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工作温度范围 |
-40℃~+85℃ |
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存储温度范围 |
0℃~+25℃ |
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工作湿度范围 |
45%~75% |
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系统性能 |
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可并行测试颗粒数量 |
1~512 颗 |
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已支持测试闪存品牌 |
Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk 等厂商的 SLC、 MLC、TLC、QLC 类型 NAND Flash 芯片颗粒（范围扩展中） |
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已支持测试封装规格 |
BGA152、BGA132（可定制扩展） |
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已支持闪存协议类型 |
ONFI/toggle 接口颗粒 |
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支持电压 |
硬件支持 V1.2、V1.8 可选 |
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支持电压拉偏范围 |
软件支持可微调 vcc2.3~3.6 vccq1.2 1.15~1.25 vccq1.8 1.70~1.95 |
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支持测试范围可选 |
起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置 |
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支持 pattern |
全 0，全 1，全 5，伪随机，棋盘格，字线随机 |
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支持特殊测试命令 |
闪存信息检测 |
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闪存性能检测 |
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寿命测试与预测 |
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质量等级分类 |
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数据干扰测试 |
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数据保持测试 |
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Read-Retry 功能 |
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寿命测试与预测 |
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ECC 自定义 |
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并行测试速度 |
以基础测试为参考： 均衡模式：32GB*512 颗粒约 1 小时； 全面模式：32GB*512 颗约 2 小时； 高速模式：32GB*512 颗约 0.5 小时； |
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智能化测试模块 |
基础测试 |
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实验测试 |
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高阶测试 |
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