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产品说明
提供5种内存测试算法组合,适应不同测试场景,至多支持32种测试算法。测试算法覆盖内存可能存在的各种故障和瑕疵, 包括: 地址解码错误 内存记忆单元错误(single-cell fault/ couple fault/ Pattern Sensitive Fault) 读写功能模块错误 ECC错误 MCE 错误。
整合测试方案主要功能
测试精确: 基于物理内存地址的By Slot Test
快速定位: Fail DIMM精确定位到主板上的位置及DIMM SN
效率: 高效测试,满足产能要求
配置灵活: 适应不同使用场景
支持最新硬件平台:Purley Platform, DDR4内存,OS识别的内存即可测试。
易于整合: 运行环境为Linux 系统
ECC错误检测: report fail 内存ECC count并可配置ECC fail 容错率
SPD dump: Dump DDR3/DDR4 256/512 raw data 并解析主要字段
MCE错误检测:CPU持续加压,可report MCE error
产品详情
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