-
首页
-
关于我们
- 公司简介
- 荣誉资质
- 我们的服务
-
产品中心
- 热流仪节能型冷热冲击温度试验箱
- SSD 研发型产品系列
- SSD 量产型产品系列
- SSD产品测试板卡及附件
- 高低温恒温恒湿系列
- 半导体器件,Memi,Meroc系列产品
- 智能化软硬件综合测试方案
- 环境模拟测试设备系统
- 冷热冲击试验箱
- 高压加速老化试验机
-
新闻中心
- 公司新闻
- 行业新闻
-
解决方案
-
案例展示
- 合作案例
-
产品知识
-
联系我们
- 联系我们
- 在线留言
-
首页
-
关于我们
- 公司简介
- 荣誉资质
- 我们的服务
-
产品中心
- 热流仪节能型冷热冲击温度试验箱
- SSD 研发型产品系列
- SSD 量产型产品系列
- SSD产品测试板卡及附件
- 高低温恒温恒湿系列
- 半导体器件,Memi,Meroc系列产品
- 智能化软硬件综合测试方案
- 环境模拟测试设备系统
- 冷热冲击试验箱
- 高压加速老化试验机
-
新闻中心
- 公司新闻
- 行业新闻
-
解决方案
-
案例展示
- 合作案例
-
产品知识
-
联系我们
- 联系我们
- 在线留言
-
ꁸ 回到顶部
-
ꂅ 400-1017-871
-
ꁗ QQ客服
-
ꀥ 微信二维码
产品说明
忆存提供了一系列的EMMC/UFS多功能测试系统,此系统整合了硬件与软件透过精心的算法技术对EMMC/UFS进行快速且完整的可靠度测试。
测试的性能范围涵盖:
1.带电压电平控制的 SSmart 电源循环测试
2.保留/耐久性/WAF/刷新测试
3.测试老化级别和性能基准
4.系统级合规性测试
5.电压通拉偏
6.通断电测试
7.监控电压,电流
8.监控功耗
9.支持速率500Mbps
10.支持多种外接数据端口
软件测试功能
一款支持多种型号EMMC颗粒的闪存芯片智能测试系统,并行测试EMMC颗粒数量至多可达 8 颗,可以在对EMMC颗粒不产生大量损耗的条件下,精确预测EMMC颗粒的剩余寿命;同时支持误码率、平均擦除时间、平均编程时间、坏块容量、剩余容量等多种可靠性数据测量和智能分析。
系统可记录测试数据并根据测试结果自动运算测试结果,完成测试后可方便快捷地一键导出测试报告,并通过二维/三维图直观显示闪存测试过程中的性能参数变化趋势,为EMMC颗粒等级分类及应用提供可视化的图表数据,并基于EMMC颗粒测试结果进行EMMC颗粒等级智能划分。
软件测试介面
产品详情
热门产品
-
电磁式振动台YC X 300
电磁式振动试验机在实验室条件下模拟振动环境,测试各种振动试验应用领域中的冲击强度和可靠性。¥ 0.00Buy now
-
HAST高压加速老化试验机
高压加速老化试验机是提高环境应力与工作应力(施加给产品的电压、负荷)等,加快试验过程,缩短产品或系统寿命试验时间的机器。
用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。¥ 0.00Buy now
-
SATA 12片宽温BIT老化柜
应用于SATA产品研发阶段数量少的高温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试,实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。¥ 0.00Buy now
-
SATA 6片宽温BIT老化柜
应用于SATA产品研发阶段数量少的高低温RDT老化测试。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高温带电老化测试,实时测控表面老化温度。
可扩展实时监测产品的电流与功耗。¥ 0.00Buy now
-
PCIE-M.2 512片RDT老化柜
可用于SSD产品PCIE-M.2盘进行RDT老化测试, "PID温度控制器,配SSR输出; 超温保护,接地保护,风机过载保护; 双开门,大面积钢化玻璃观察窗,可观察工作室状况,内置保温层; 一拖八PCIE接口独立开关控制板卡; 履带式抽拉抽屉,12V 360W控制电源,耐高温线;¥ 0.00Buy now
-
Flash-Nand 8颗性能测试FPGA板卡
测试产品通道数量:8 颗。
产品兼容:三星,东芝,海力士,长江存储,镁光。¥ 0.00Buy now
服务热线: 13058584182 / 4001017871