DDR 4颗宽温BIT老化柜

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整合了 CPU/内存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式测试方案。
多种配置组合，适应用户不同使用场景，如研发中心SIT测试，研发团队硬件匹配性测试，工厂测试，RMA维修，进料检。
DDR内存测试是非常重要的，可以确保计算机系统的稳定性和性能。在进行DDR内存测试时，需要使用专业的测试工具和软件来检测内存的速度、容量和稳定性。通过定期进行DDR内存测试，可以及时发现并解决内存问题，确保系统运行的顺畅和稳定。DDR内存测试还可以帮助用户评估内存的性能，选择适合自己需求的内存产品。

产品说明

提供5种内存测试算法组合，适应不同测试场景，至多支持32种测试算法。测试算法覆盖内存可能存在的各种故障和瑕疵，包括：地址解码错误内存记忆单元错误(single-cell fault/ couple fault/ Pattern Sensitive Fault) 读写功能模块错误 ECC错误 MCE 错误。

整合测试方案主要功能

测试精确：基于物理内存地址的By Slot Test

快速定位： Fail DIMM精确定位到主板上的位置及DIMM SN

效率：高效测试，满足产能要求

配置灵活：适应不同使用场景

支持最新硬件平台：Purley Platform， DDR4内存，OS识别的内存即可测试。

易于整合：运行环境为Linux 系统

ECC错误检测： report fail 内存ECC count并可配置ECC fail 容错率

SPD dump: Dump DDR3/DDR4 256/512 raw data 并解析主要字段

MCE错误检测：CPU持续加压，可report MCE error