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EMMC 4颗宽温BIT老化柜

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近几年EMMC应用领域从手机应用延伸到IOT、工业、医疗甚至是车用电子。这个微小的芯片中,储存了许多重要的数据,在面对各种不同的应用场景时,芯片的可靠度、衰老以及对于工作环境温度的稳定性也变得极为重要。
如何确保产品所使用的EMMC与UFS能够在这些艰难的环境下提供稳定的功能与效能表现也成为工程师极为关注的项目。

产品说明

忆存提供了一系列的EMMC/UFS多功能测试系统,此系统整合了硬件与软件透过精心的算法技术对EMMC/UFS进行快速且完整的可靠度测试。

 

测试的性能范围涵盖:

1.带电压电平控制的 SSmart 电源循环测试

2.保留/耐久性/WAF/刷新测试

3.测试老化级别和性能基准

4.系统级合规性测试

5.电压通拉偏

6.通断电测试

7.监控电压,电流

8.监控功耗

9.支持速率500Mbps

10.支持多种外接数据端口

 

软件测试功能

一款支持多种型号EMMC颗粒的闪存芯片智能测试系统,并行测试EMMC颗粒数量至多可达 8 颗,可以在对EMMC颗粒不产生大量损耗的条件下,精确预测EMMC颗粒的剩余寿命;同时支持误码率、平均擦除时间、平均编程时间、坏块容量、剩余容量等多种可靠性数据测量和智能分析。

系统可记录测试数据并根据测试结果自动运算测试结果,完成测试后可方便快捷地一键导出测试报告,并通过二维/三维图直观显示闪存测试过程中的性能参数变化趋势,为EMMC颗粒等级分类及应用提供可视化的图表数据,并基于EMMC颗粒测试结果进行EMMC颗粒等级智能划分。

 

软件测试介面

 

 

产品详情

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