Flash-Nand 8颗宽温BIT老化箱

产品说明

Flash-Nand 8颗宽温BIT老化柜针对Flash 芯片异常断电测试、Flash 芯片读写测试、Flash 芯片 ATA1-8指令测试、Flash 芯片算法映射表验证等功能进行检测。

整机概述

1.1 整机主要有如下一些特性：

   1、(-40度至+150度)的测试;

   2、异常断电测试和老化测试;

   3、自动化温控测试;

   4、全部采用软体进行智能化控制测试;

   5、测试软件的定制化;

   6、箱内风速与温度均衡;

   7、快速升温控制;

   8、网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果;

   9、APP远程控制测试;

1.2 整机主要组成部分：

整机测试系统主要包括高低温箱、PC主板、PM板和测试软件等。

1.3 硬体部分：

硬件部分主要由如下几部分组成：

测试箱外壳; PC主板; PM板; 电源控制部件;

1.4 软体部分：

软体部分主要由如下部分组成：

▸ 基础测试功能：芯片信息识别、 实时功耗测试、 误码率测试、 平均擦除时间测试、 平均编程时间测试、 坏块数测试、 计算剩余可用容量、 闪存可靠性等级划分、 剩余寿命等级预测、 一键导出测试报告。

▸ 实验测试功能： 实际可擦写次数测试、 闪存错误数变化绘图、 页面错误数变化测试、 块擦除时间变化绘图、 页编程时间变化绘图、 一键导出测试报告。

▸ 高阶测试功能： 测试电压拉偏（read-retry）、 设置测试范围（块间隔）、 ECC 设定、 挑选测试 pattern Read-retry 数据保持、 读干扰、 宽温筛选、 筛选目标温度下可正常工作的闪存颗粒、 分 Bin 快速识别颗粒的原始坏块、并计算剩余可用容量和等级、 数据保持、 高温加速模型、模拟预测 Nand 在常温下是否可达到目标保持时间、 读干扰、 测试闪存颗粒抗读干扰的能力、 高温 PE 分阶段测试待测颗粒高温下耐擦写能力。